手持金屬光譜分析儀是一種基于XRF光譜分析技術的光譜分析儀器，當能量高于原子內(nèi)層電子結合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時,驅(qū)逐一個內(nèi)層電子從而出現(xiàn)一個空穴,使整個原子體系處于不穩(wěn)定的狀態(tài),當較外層的電子躍遷到空穴時,產(chǎn)生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子，發(fā)生俄歇效應,亦稱次級光電效應或無輻射效應。所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。當較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不被原子內(nèi)吸收,而是以光子形式放出,便產(chǎn)生X 射線熒光，其能量等于兩能級之間的能量差。

　　手持金屬光譜分析儀主要特點：

　　-便于攜帶，適合現(xiàn)場快速分析

　　-充電電池工作，適用于現(xiàn)場復雜惡劣環(huán)境

　　-分析速度快，僅需幾秒種

　　-隨時增加分析材料種類及分析元素-指紋譜圖技術，自動譜線識別

　　-工業(yè)級計算機，智能化分析模式，強大的快速分析能力

　　手持金屬光譜分析儀射線熒光的能量或波長是特征性的,與元素有一一對應的關系。由Moseley定律可知，只要測出熒光X射線的波長,就可以知道元素的種類,這就是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系,據(jù)此,可以進行元素定量分析。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉(zhuǎn)換成易于測量的電信號來得到待測元素的特征信息。